7月4日消息,国家知识产权局信息显示,杭州中安电子股份有限公司申请一项名为“一种交流HPD测试系统”的专利,授权公告号CN224456936U,授权公告日为2026年7月3日。申请号为CN202521209378.2,申请公布日期为2026年7月3日,申请日期为2025年6月13日,发明人王怀伟、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城,专利代理机构杭州浙言专利代理事务所(普通合伙),专利代理师李璐,分类号G01R31/26、G05B19/042、G01R1/28。
专利摘要显示,本实用新型涉及SIC器件的测试技术,公开了一种交流HPD测试系统,用于SIC模块器件的交流高温测试中,包括驱动检测模块、电源端和被测器件;电源端提供电压至驱动检测模块及被测器件,驱动检测模块用于对被测器件进行驱动及测试;其驱动检测模块包括MCU微控制器和交流输出控制单元;电源端提供电源至MCU微控制器、交流输出控制单元;MCU微控制器控制交流输出控制单元输出的交流信号。本实用新型设计的测试系统在交流电压输出采用220V/50Hz市电作为输入,调压器进行电压动态调节,通过高压干簧继电器实现偏置电压的切换,可同时兼容高压交流和直流试验。
天眼查数据显示,杭州中安电子股份有限公司成立日期1999年8月24日,法定代表人卜建明,所属行业为仪器仪表制造业,企业规模为小型,注册资本3374.9976万人民币,实缴资本3374.9976万人民币,注册地址为浙江省杭州市余杭区余杭街道圣地路6号2幢。杭州中安电子股份有限公司共对外投资了3家企业,参与招投标项目256次,财产线索方面有商标信息3条,专利信息80条,拥有行政许可21个。
杭州中安电子股份有限公司近期专利情况如下:
| 序号 | 专利名称 | 专利类型 | 法律状态 | 申请号 | 申请日期 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日期 | 发明人 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 一种实时计算Rdson的方法及装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610681172.2 | 2026-05-18 | CN122218443A | 2026-06-16 | 胡世松、牛振、卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮 |
| 2 | 一种新型自动复位夹具 | 发明专利 | 公布 | CN202610660131.5 | 2026-05-14 | CN122283204A | 2026-06-26 | 胡世松、邓秋实、马靖轩、卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮 |
| 3 | 一种半导体器件的测试装置 | 发明专利 | 公布 | CN202610083692.3 | 2026-01-22 | CN121917934A | 2026-04-24 | 卜予城、沈东、罗雪峰、何仁杰、王晨光、柴俊标、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉、黄珽瑮 |
| 4 | 一种交流HPD测试系统 | 实用新型 | 授权 | CN202521209378.2 | 2025-06-13 | CN224456936U | 2026-07-03 | 王怀伟、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 5 | 一种被动水冷板及水冷测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202521159628.6 | 2025-06-09 | CN224456794U | 2026-07-03 | 王晨光、柴俊标、卜予城、卜建明、余亮、贺庭玉、廖剑 |
| 6 | 一种用于水冷板的测试系统 | 实用新型 | 授权 | CN202521159883.0 | 2025-06-09 | CN224456795U | 2026-07-03 | 王晨光、柴俊标、卜予城、卜建明、余亮、贺庭玉、廖剑 |
| 7 | 一种无功老化的测试线路 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202510662985.2 | 2025-05-22 | CN120490643A | 2025-08-15 | 柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城 |
| 8 | 无功老化测试设备 | 外观专利 | 授权 | CN202530274528.7 | 2025-05-16 | CN309665871S | 2025-12-12 | 卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐 |
| 9 | 晶圆老化测试设备 | 外观专利 | 授权 | CN202530274489.0 | 2025-05-16 | CN309744968S | 2026-01-23 | 卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐 |
| 10 | 一种模块老化测试单元 | 实用新型 | 授权 | CN202520963475.4 | 2025-05-16 | CN224231896U | 2026-05-12 | 王天恩、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 11 | 一种能馈型DC/DC试验方法和装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、实质审查的生效、公布 | CN202510273770.1 | 2025-03-10 | CN120103205A | 2025-06-06 | 翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 12 | 一种适用于半导体行业的模温机 | 实用新型 | 授权 | CN202520033907.1 | 2025-01-08 | CN223582385U | 2025-11-21 | 李吉雷、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 13 | 一种低杂感无功功率器件测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202520033788.X | 2025-01-08 | CN223842063U | 2026-01-27 | 姜景帅、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 14 | 一种晶圆老化测试装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202510022075.8 | 2025-01-07 | CN119556113A | 2025-03-04 | 周玉军、左小波、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 15 | 一种用于晶圆老化测试的夹具 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202510022272.X | 2025-01-07 | CN119689220A | 2025-03-25 | 周玉军、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 16 | 一种用于晶圆老化的测试台 | 实用新型 | 授权 | CN202520031456.8 | 2025-01-07 | CN223796648U | 2026-01-13 | 左小波、周玉军、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 17 | 一种用于加热及吸附晶圆的载台 | 实用新型 | 授权 | CN202520031031.7 | 2025-01-07 | CN223841959U | 2026-01-27 | 周玉军、左小波、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 18 | 一种晶圆老化测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202520030850.X | 2025-01-07 | CN223842073U | 2026-01-27 | 林泽涛、李吉雷、周玉军、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 19 | 一种用于晶圆老化测试的夹具 | 实用新型 | 授权 | CN202520031279.3 | 2025-01-07 | CN224066936U | 2026-03-31 | 周玉军、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 20 | 一种自适应温度控制方法及装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411888717.4 | 2024-12-20 | CN119717957A | 2025-03-28 | 胡世松、柴俊标、卜建明、卜予城 |
| 21 | 一种控制三相桥的信号生成方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、实质审查的生效、公布 | CN202411545633.0 | 2024-11-01 | CN119420223A | 2025-02-11 | 柴俊标、卜予城、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉 |
| 22 | 一种高温经时击穿试验装置 | 实用新型 | 授权 | CN202421938618.8 | 2024-08-09 | CN223217605U | 2025-08-12 | 卜予城、王怀伟、卜建明、柴俊标、贺庭玉、廖剑、余亮 |
| 23 | 一种芯片测试设备及测试方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410702191.X | 2024-06-01 | CN118549426A | 2024-08-27 | 沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 24 | 一种芯片编带装置 | 实用新型 | 授权 | CN202421117672.6 | 2024-05-21 | CN222522930U | 2025-02-25 | 沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 25 | 一种料盘移动装置 | 实用新型 | 授权 | CN202421125449.6 | 2024-05-21 | CN222646985U | 2025-03-21 | 沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 26 | 一种芯片老化测试安装装置 | 实用新型 | 授权 | CN202421137759.X | 2024-05-21 | CN222719669U | 2025-04-04 | 沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 27 | 一种IGBT模块无功功率的测试设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410199456.9 | 2024-02-23 | CN118625082A | 2024-09-10 | 郑昌平、柴俊标、卜建明、廖剑、余亮、卜予城 |
| 28 | SIC模块大电流测试电路 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202311868677.2 | 2023-12-29 | CN117878826A | 2024-04-12 | 郑昌平、柴俊标、卜建明、廖剑、余亮、卜予城 |
| 29 | 一种IGBT模块的测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202323562385.4 | 2023-12-26 | CN221631587U | 2024-08-30 | 林曙亮、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 30 | 一种多路NTC采集线路 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202311670344.9 | 2023-12-07 | CN117629446A | 2024-03-01 | 翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 31 | 一种微波控制板自动校准装置 | 实用新型 | 授权 | CN202323217083.3 | 2023-11-28 | CN221101310U | 2024-06-07 | 黄珽瑮、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 32 | 多应力加速试验分析方法、电子设备和可读存储介质 | 发明专利 | 授权、实质审查的生效、公布 | CN202311526277.3 | 2023-11-16 | CN117252040B | 2024-02-06 | 胡世松、黄厚超、方作宾、方小阳、陈鹏、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城 |
| 33 | 一种晶圆上下料机及校准方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202311471154.4 | 2023-11-06 | CN117607647A | 2024-02-27 | 马雨雷、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城、胡世松 |
| 34 | 高低温试验箱 | 外观专利 | 授权 | CN202330662091.5 | 2023-10-13 | CN308592636S | 2024-04-19 | 卜建明、周玉军、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐、卜予城、吴涓 |
| 35 | 一种用于电容器的老练试验设备 | 实用新型 | 授权 | CN202322744323.9 | 2023-10-13 | CN220983409U | 2024-05-17 | 林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 36 | 一种风冷大功率电源模块的试验装置 | 实用新型 | 授权 | CN202322733461.7 | 2023-10-12 | CN221303534U | 2024-07-09 | 翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 37 | 一种K系数测试仪 | 实用新型 | 授权 | CN202322721251.6 | 2023-10-11 | CN221261032U | 2024-07-02 | 陈承静、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 38 | 一种带夹断功能的SiC单元及老化测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202322691409.X | 2023-10-08 | CN221765600U | 2024-09-24 | 轩艳文、王怀伟、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城 |
| 39 | 一种滤波器实验测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202322551878.1 | 2023-09-20 | CN221595130U | 2024-08-23 | 高广奎、周玉军、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮 |
| 40 | 一种高速ADC/DAC的测试系统及方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202311179870.5 | 2023-09-13 | CN117572195A | 2024-02-20 | 谭玉龙、杨坦、周玉军、方小阳、柴俊标、胡世松、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮 |
| 41 | 晶圆老化测试设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202311069392.2 | 2023-08-24 | CN116774019A | 2023-09-19 | 卜建明、林泽涛、林曙亮、柴俊标、胡世松、余亮、廖剑、贺庭玉、叶向宏 |
| 42 | 基于SiC功率器件的测试系统和方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202310655926.3 | 2023-06-05 | CN116520122A | 2023-08-01 | 杜磊、柴俊标、贺庭玉、余亮、廖剑、卜建明 |
| 43 | 一种数字IC芯片的功能测试的方法和系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202310580672.3 | 2023-05-22 | CN116660734A | 2023-08-29 | 杨坦、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、谭玉龙 |
| 44 | 一种微波器件的结温控制系统和方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202310525841.3 | 2023-05-08 | CN116520059A | 2023-08-01 | 卜建明、马杨波、柴俊标、胡世松、贺庭玉、廖剑、余亮 |
| 45 | 一种GaN功率循环测试系统及方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202310387221.8 | 2023-04-06 | CN116679180A | 2023-09-01 | 柴俊标、叶向宏、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉 |
| 46 | 一种高压大电流的动态老化测试系统 | 实用新型 | 专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权 | CN202320490150.X | 2023-03-15 | CN219552493U | 2023-08-18 | 陈承静、卜建明、廖剑、余亮、柴俊标、贺庭玉 |
| 47 | 自动开关门试验箱 | 外观专利 | 专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权 | CN202330108226.3 | 2023-03-10 | CN308226995S | 2023-09-15 | 周玉军、余亮、卜建明 |
| 48 | 一种裸芯级恒温密闭装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202310202567.6 | 2023-02-24 | CN116184170A | 2023-05-30 | 柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮 |
| 49 | 基于GaN器件DHTOL试验测试方法和装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202310194884.8 | 2023-02-24 | CN116466204A | 2023-07-21 | 陈承静、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮 |
| 50 | 一种双面水冷负压夹具 | 发明专利 | 授权 | CN202310059285.5 | 2023-01-18 | CN116298406B | 2025-12-12 | 周玉军、柴俊标、贺庭玉、廖剑、余亮 |
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