精而美科技申请基于多光谱成像的手机卡托缺陷精准检测方法及系统专利，显著提升了单一光谱难以检测的细微缺陷的检测能力_脉络梳理

精而美科技申请基于多光谱成像的手机卡托缺陷精准检测方法及系统专利，显著提升了单一光谱难以检测的细微缺陷的检测能力

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2026-03-11 18:25:43

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国家知识产权局信息显示，深圳市精而美科技有限公司申请一项名为“基于多光谱成像的手机卡托缺陷精准检测方法及系统”的专利，公开号CN121640001A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明公开了基于多光谱成像的手机卡托缺陷精准检测方法及系统，涉及缺陷检测技术领域，包括：获取手机卡托在多个不同波段下的光谱图像；对获取的每一幅所述光谱图像进行预处理；得到在该光谱图像下识别出的候选缺陷类型及其对应的第一概率值；确定识别出的每个候选缺陷类型在对应光谱图像下的置信度权重；计算该候选缺陷类型的第二概率值；将所述第二概率值与预设的置信度阈值进行比较，若所述第二概率值大于或等于所述置信度阈值，则判定所述手机卡托存在该候选缺陷类型的缺陷。本发明的优点在于：通过获取目标卡托在多个不同波段下的光谱图像，实现了对多源光谱信息的智能、自适应融合，显著提升了单一光谱难以检测的细微缺陷的检测能力。

天眼查资料显示，深圳市精而美科技有限公司，成立于2003年，位于深圳市，是一家以从事通用设备制造业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市精而美科技有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目5次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息88条，此外企业还拥有行政许可18个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业方法光谱缺陷成像投资检测显著提升深圳市专利概率图像置信度

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